上海伯东高低温测试机ATS-545在超低功率模拟芯片上的应用

基于22nm、40nm、55nm成功开发了NB-IoT/IoT模拟IP平台, 包含了全套nA级的超低功耗模拟IP, 包括50nA的超低功耗LDO, 80nA Bandgap, 零静态功耗POR, 25uA的超低功耗DCDC, 0.8uW SAR-ADC, 0.5uW PLL及支持低功耗模式的多功能IO库. 在55nm、110nm、130nm、180nm等CMOS和Embedded-flash工艺制程上, 成功开发了MCU模拟IP平台, 本文主要介绍上海伯东inTEST ATS-545在超低功率模拟芯片上的应用.

上海伯东高低温测试机ATS-545在超低功率模拟芯片上的应用的原因:

目前的低功耗设计主要从芯片设计和系统设计两个方面考虑. 随着半导体工艺的飞速发展和芯片工作频率的提高, 芯片的功耗迅速增加, 而功耗增加又将导致芯片发热量的增大和可靠性的下降. 因此, 功耗已经成为深亚微米集成电路设计中的一个重要考虑因素. 为了使产品更具竞争力, 需要在不同温度环境下对模拟芯片进行性能测试, 以确保能在综合复杂的环境中正常使用, 客户*终选择了ATS-545高低温冲击机进行测试.

超低功率模拟芯片测试方法：

具体做法如下.
1.将芯片放置于已做好的工装中；
2.将sensor一端连接热流罩上对应接口, 一端与芯片表面接触；

3.将ATS-545热流罩转到工装平台并下压固定；
4.启动ATS-545高低温冲击机加热至需要测试的温度点；
5.启动芯片测试设备对芯片在-55度及125度下进行性能测试并记录数据；

ATS-545高低温冲击机在通信芯片方面的客户案例：

成都锐成芯微电子, 通过伯东购买ATS-545高低温冲击机

inTEST ThermoStream高低温测试机 ATS-545 功能特点：
与友厂对比, inTEST ThermoStream 独有的专利自动复叠式制冷系统 (auto cascade refrigeration) 保证低温, 内置 AC 交流压缩机, 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有1.效保护环境; 专利 ESD 防静电保护设计
2.旋钮式控制面板, 支持测试数据存储
3.过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C
4.加热模式下, 冷冻机可切换成待机模式, 以减少电力消耗
5.干燥气流持续吹扫测试表面, 防止水气凝结

inTEST 高低温测试方法：提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode
通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离, 然后对 IC 循环喷射冷热气流, 使IC 温度短时间发生急剧变化, 从而完成温度循环和温度冲击的测试.

上海伯东是德国 Pfeiffer 真空泵, 检漏仪, 质谱仪, 真空计, 美国 KRI 考夫曼离子源, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 美国 Ambrell 感应加热设备和日本 NS 离子蚀刻机等进口知名品牌的指定代理商.

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